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薄膜测厚仪

MProbe NIR薄膜测厚仪

产品概述

采用近红外光谱(NIR)的薄膜测厚仪,可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。