产品中心

检测设备

您当前的位置:首页>产品中心>检测设备
  • 激光干涉仪

    The S100/HR is a modern interferomrter providing perfoamance where it matters for today's manufacturing processes,without breaking the bank.Until now,your choices were a calssic continuous zoom system,architected in the late 1970's,for lap polished spheres,Or a coherent imaging system at nea…

    阅读详细
  • 薄膜测厚仪

    反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术。当一束光入射到薄膜表面时,薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉,干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关,反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。

    阅读详细
  • 单晶X射线衍射仪

    Omega/Theta X射线衍射仪应用于SiC衬底的堆垛和质量评估,晶体取向和摇摆曲线快速测量。

    阅读详细
  • LIBS

    可以对固相、液相和气相基体中几乎所有元素进行定性和定量的分析。不同于传统的检测方法如ICP-OES,LIBS在检测过程中无需进行复杂的样品制备。

    阅读详细