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薄膜测厚仪

  • 便携式探头

    测量曲面样品或样品无法移动时,需要用到特殊的探头,这些探头包裹一层柔性橡胶,可以直接放到样品上面,用光纤将其与主机相连。基于不同的应用,有三个型号可选。

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  • MAI显微镜适配器

    MAI显微镜适配器,可与任何一台正置显微联用,将MProble系列薄膜测厚仪加到显微镜上,用于微小样品的厚度测量,包含一个200万像素CCD,可对测量区域进行成像。

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  • MProbe MSP显微薄膜测厚仪

    MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。

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  • Map薄膜厚度测绘仪

    Map薄膜厚度测绘仪用于测量厚度分布,评价薄膜厚度的均一性,可与所有MProble系列的薄膜测厚仪联用。

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  • EC-770N 导电金属基涂层测厚仪

    EC-770N涂层测厚仪,能测量非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密探头,利用涡流效应,计算涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。

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